X射线光电子能谱仪

发布时间: 2016-11-18     浏览次数: 192     发布者: admin

仪器名称:全自动聚焦扫描微区光电子能仪(XPS)

产品型号:PHIQuanteraⅡ

品     牌:日美纳米表面分析仪器公司

产     地:日本

主要技术指标

系统到达真空 <5×10-10torr

Ag样品XPS光电子能量分辨率Ag3d 5/2 峰半高宽 FWHM< 0.50 eV

PET样品XPS光电子能量分辨率C1sO=C-O峰半高宽FWHM< 0.85 eV

最小X射线斑束<9.0μmx方向;<9.0μmy方向;

XPS灵敏度>15kcps <10.0 μm

能量分辨率<0.60eV

离子枪最大电流 >5.0μA @ 5 kV

仪器使用范围

电子能谱仪可以对固体样品的表面元素组成进行定性和定量分析,还可以对样品表面原子的化学态及分子结构进行分析研究。利用氩离子深度剖析技术和角分辨XPS技术,可以获得样品表面不同深度的组成变化情况。利用小束斑X射线,可以对样品表面进行微区分析和元素及化学态成像分析。利用原位处理反应池,可在不同温度及压力下对样品进行不同气氛的处理,以获得实际使用气氛对样品表面组成及状态变化的动态影响信息。

适用于高分子材料、催化、电化学、半导体、金属、合金以及生物医学材料等。